Вольтамперометрическое исследование стекол системы ge-sb-se в щелочном и фосфатном электролитах | Калининградский государственный технический университет
Размер:
A A A
Цвет: C C C
Изображения Вкл. Выкл.
Обычная версия сайта

Вольтамперометрическое исследование стекол системы ge-sb-se в щелочном и фосфатном электролитах

УДК 666.113.32

В.А. Фунтиков*, О.В. Бузулёва*

*Российский государственный университет им. И. Канта,
236040, г. Калинингpад, ул. Унивеpситетская, 2,
E-mail: funtikovva@mail.ru


В статье приводятся результаты исследования халькогенидных стекол системы Ge-Sb-Se методом анодной и катодной вольтамперометрии. Впервые удалось создать условия для проявления электрохимической активности высокоомными халькогенидными стеклами. Для реализации указанной задачи использовался метод пастовой вольтамперометрии в слабо- и сильнощелочной средах. Применение вольтамперометрии к полупроводниковым стеклам позволило получить фундаментальную и прикладную информацию о стеклах.

стекло, халькогениды, структура,  вольтамперометрия, электрохимическое травление

Скачать всю статью в RAR-файле: 36.rar