Научно-исследовательская лаборатория микро- и нанотехнологий

Аспиранты, сотрудники, студенты

Труды:

1. Bryukhanov V.V. Dynamics of molekular exchange-resonanse photoprocesses on the surface  of chemically modified silica.//  Technical Digest. ICONO 2001. Minsk, Belarus.- 2001.P.ThN6.
2. Брюханов В.В. Диффузионно-контролируемые фотопроцессы на химически модифицированных кремнеземах.//Опт. и спектр..-2001,т.90,№3.-С.490-495.
3. Брюханов В.В., Иванов А.М., Орлов М.Е., Самусев И.Г. Исследование фотодеструкции полимеров методом атомно-силовой наноскопии.// TAIKOMOLI  FIZIKA. Konferecijos, Kaunas,Technologija.2002.-p.18-19.
4. Losev L.L.,Song J., Xia J.F., Stricland D., Bryukhanov V.V. // Optics Letters. 2002. V.27., No.23 , P.2100-2102.
5. Bryukhanov V.V., Samoussev I.G. Dynamics of molekular exchange-resonanse photoprocesses on the surface of chemically modified silica.// Procedings of SPIE Volume: 4749. ICONO 2001: Novel Trends in Nonlinear Laser Spectroscopy and Optical Diagnostics and Lasers in Chemistry, Biophysics and Biomedicine. Editors: Chikishev A.Y., Orlovitch V. A., Rubinov A.N., Zheltikov A.M. 5/2002.
6. Брюханов В.В., Елистратова С.А., Лауринас В.Ч. Спектрально-люминесцентные свойства напыленных пленок родамина 6Ж. // ЖПС. 2003.Т.70.№3.С.400-404.
7. Карстина С.Г., Маркова М.П., Брюханов В.В. Гомо- и гетероаннигиляция триплетно-возбужденных молекул бенгальского розового и антрацена на кремнеземе в широком интервале температур. // ЖПС. 2003.Т.70.№ 5. С.646-651
8. Брюханов В.В. Влияние температуры на скорость триплет-триплетной аннигиляции 1,2-бензантрацена в полимерной матрице./В.В. Брюханов, И.Г. Самусев, С.Г. Карстина // ЖПС.-2004.- V.71-№1.-С.49-53.
9. Брюханов В.В. Триплет-триплетная аннигиляция молекул эозина на поверхности анодированного алюминия. / В.В. Брюханов, И.Г. Самусев, А.М. Иванов.// Известия высших учебных заведений. Сер. Физика.-2004.-Т.47.-№10.-С.7-12
10. V.V.Bryukhanov. ANNIHILATION OF EOSYNE TRIPLET MOLECULES ON ANODIZED ALUMINUM SURFACE / V.V.Bryukhanov., I.G.Samusev., A.M. Ivanov //Eurasian Phys.Tech. J.-2004.-V.1.-№1.-P.24-26.